温度保险丝进行“寿命测试”过程中出现烧毁有哪些原因
提问：温度保险丝进行“寿命测试”中出现烧断/烧毁有哪些原因？
答：
（1）最重要的是设计原因导致长期使用温度过高(如功率过高、发热体或温度保险丝设计过近等。)温度保险丝选择TF过低，导致熔断；
（2）温度保险丝连接不紧，如端子冲洗不紧或虚焊，导致电阻过大，温度叠加过高；
（3）温度保险丝的选择，只考虑TF，不考虑TH。因为寿命测试是一个长期的过程，使用温度超过TH，但不超过TF。保险丝不需要立即断裂，但会在一段时间内慢慢熔化（也许几十个小时，也许几百个小时），最终导致烧毁。产品的设计比较复杂，最好有物理分析。一般来说，这些情况比较常见；
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